集成電路產(chǎn)業(yè)是電子信息產(chǎn)業(yè)的核心，是支撐國家經(jīng)濟(jì)社會發(fā)展的戰(zhàn)略性、基礎(chǔ)性、先導(dǎo)性產(chǎn)業(yè)，也是新基建的基石。
中國集成電路設(shè)計業(yè)年會作為推動產(chǎn)業(yè)集聚、對接產(chǎn)業(yè)資源、掌握行業(yè)趨勢的重要力量。每年都與會議主辦地電子信息產(chǎn)業(yè)發(fā)展實(shí)際相結(jié)合，具備極具特色的年會展會活動及高峰論壇。
2021年，“中國集成電路設(shè)計業(yè)2021年會暨無錫集成電路產(chǎn)業(yè)創(chuàng)新發(fā)展高峰論壇”將在無錫舉辦，廣電計量將參與中國集成電路設(shè)計產(chǎn)業(yè)展覽環(huán)節(jié)。
作為芯片檢測及技術(shù)服務(wù)領(lǐng)域的一支重要力量，廣電計量已構(gòu)建三大核心技術(shù)服務(wù)能力：
1、元器件國產(chǎn)化驗(yàn)證與競品分析
形成先進(jìn)的國產(chǎn)化電子元器件、大規(guī)模集成電路、芯片的可靠性篩選及功能性能測試分析技術(shù)能力，通過“二次篩選”保證產(chǎn)品質(zhì)量可控，并提高其整體可靠性。
2、半導(dǎo)體功率器件質(zhì)量提升
擅長功率器件和微波器件使用前的可靠性驗(yàn)證以及在應(yīng)用過程中發(fā)生的失效分析，并為IGBT和以GaN、SiC為代表的第三代半導(dǎo)體功率器以及GaN微波器件的設(shè)計和工藝改進(jìn)提供建議。
3、車規(guī)級芯片+元器件AEC-Q認(rèn)證
作為已完成AEC-Q100、AEC-Q101、AEC-Q102、AEC-Q200完整驗(yàn)證報告的第三方檢測機(jī)構(gòu)，可對AEC-Q驗(yàn)證過程的失效品展開分析，幫助企業(yè)根據(jù)失效機(jī)理指導(dǎo)產(chǎn)品改進(jìn)升級。
在會議展覽區(qū)，我們將向您展示集成電路及芯片產(chǎn)品全壽命周期檢測與失效分析技術(shù)服務(wù)方案：
想要了解更多詳細(xì)解決方案，歡迎蒞臨我們的展位274號！
時間：2021年12月22日-23日
地點(diǎn)：無錫太湖國際博覽中心A4館 274號展位（無錫市太湖新城清舒道 88號）